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了解一下精密激光測厚儀的測厚原理
點擊次數:2894 更新時間:2024-03-04
   精密激光測厚儀一般是由兩個激光位移傳感器上下對射的方式組成的,上下的兩個傳感器分別測量被測體上表麵的位置和下表麵的位置,通過計算得到被測體的厚度。激光測厚儀的優點在於它采用的是非接觸的測量,相對接觸式測厚儀更,不會因為磨損而損失精度。相對超聲波測厚儀精度更高。相對X射線測厚儀沒有輻射汙染。

  下麵我們(men) 來了解一下精密激光測厚儀(yi) 的測厚原理

  兩(liang) 個(ge) 激光位移傳(chuan) 感器的激光對射,被測體(ti) 放置在對射區域內(nei) ,根據測量被測體(ti) 上表麵和下表麵的距離,計算出被測體(ti) 的厚度。

  激光束在被測物體(ti) 表麵上形成一個(ge) 很小的光斑,成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏麵上,產(chan) 生探測其敏感麵上光斑位置的電信號。當被測物體(ti) 移動時,其表麵上光斑相對成像物鏡的位置發生改變,相應地其像點在光敏器件上的位置也要發生變化,進而可計算出被測物體(ti) 的實際移動距離。

  精密激光測厚儀(yi) 的基本組成是激光器、成像物鏡、光電位敏接收器、信號處理機測量結果顯示係統。激光束在被測物體(ti) 表麵上形成一個(ge) 亮的光斑,成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上,產(chan) 生探測其敏感麵上光斑位置的電信號。當被測物體(ti) 移動時,其表麵上光斑相對成像物鏡的位置發生改變,相應地成像點在光敏器件上的位置也要發生變化,兩(liang) 者之間的關(guan) 係:

  X、X`--分別是被測物位移和光敏器件上像斑的位移;

  L、L`、α--是係統的結構參數,是根據具體(ti) 使用要求而選定的。

  由此可見地測量X`就可以得到被測物體(ti) 的位移量,這就是三角法測量位移的原理。

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